Descrição:
Este conjunto de dados contém arquivos brutos de difratometria de raios-X, fotoemissão de raios-X e absorbância (UV-Vis) relacionadas à caracterização de eletrodos semicondutores de FTO|FeTiO3, FTO|BiVO4, Ti|BiVO4 e Ti|BiVO4/FeOOH/NiOOH. O arquivo dataset.zip reúne os arquivos em formato xy legíveis em qualquer editor de texto com suporte a txt e imagens.